日前，我校计量技术工程学院李东升教授的研究生丁雪应邀参加了在英国哈德斯菲尔德举行的11th International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces国际会议，会议期间丁雪作了题为Development of Leaf Surface Topography Precision Sensors的报告，该报告为国家自然基金资助项目“作物叶片周期性增厚机理及水分优化控制的研究”的主要研究内容之一，报告引起了与会专家学者的广泛关注。
International Conference on Metrology and Properties of Engineering Surfaces是由Tom R Thomas和Ken Stout发起的国际性学术会议，每两年举办一次。第11届国际会议在哈德斯菲尔德大学举行，来自英国、德国、法国、中国、波兰等十余个国家的近百位专家学者参加了此次会议，包括Professor David J. Whitehouse，Professor Tom R Thomas和Professor Liam Blunt等国际知名学者。该会议在国际计量领域具有深远影响，会议论文将被SCI源期刊Journal of Physics收录。
这是我校研究生首次登上国际学术交流舞台，对提高我校知名度及学术交流的促进具有积极的影响。
